2007年9月17日下午三时，由中国仪器仪表学会、中国分析测试协会组织的对上海光谱仪器有限公司研制的“SP-3800系列高性能自吸收背景校正原子吸收光谱仪”的新产品专家鉴定会在上海光谱公司总部举行。出席本次鉴定会的专家有上海理工大学庄松林院士、中国分析仪器学会名誉理事长朱良漪教授、中国分析仪器学会副理事长闫成德研究员、中国农科院蒋士强研究员、复旦大学邱德仁教授、上海市计算技术研究所王志宏研究员、中国地质实验中心杨啸涛研究员等。庄松林院士主持了本次新产品鉴定会。

 

    会议伊始，首先由上海光谱仪器有限公司的刘瑶函高工与刘志高工程师分别向与会专家介绍了此次项目的研制情况以及所取得的主要研发成果。1978年刘瑶函高工首次在世界上提出了自吸收背景校正方法，而在29年之后，刘瑶函高工又与上海光谱公司通力合作，将这一沉寂多年的技术推上了一个全新的高度。

 

    众所周知，自吸收式背景校正技术成本低廉，适合我国国情，但由于该技术本身所存在的一些缺陷，长期以来一直未能得到很好的推广应用。针对这一现状，项目组在刘瑶函高工的带领下进行了大量的基础性研究，目前已取得了丰硕的成果。

 

他们通过技术革新并通过大量实验，摸索出一套信息处理，光学降噪、间隙控灯、“汞灯－试剂”梯度测量等独创或首创的专有技术（已经申请发明专利），使氘灯和元素灯自吸效应双背景校正技术达到和超过国际同类产品性能水平；在当前大多数人们所关心的元素分析的能力上，可与塞曼背景校正相媲美！

 

    而在上述研究成果的基础上，上海光谱公司成功开发出了具有国际先进水平的SP-3800系列高性能自吸收背景校正原子吸收光谱仪。

 

    鉴定会上，鉴定委员会的专家们认真听取了项目完成单位所作的研制报告、测试报告、查新报告、专家测评报告和用户使用报告，并审查了有关技术资料，参观了仪器及现场演示，通过质询、答疑和认真讨论，专家们一致认为该项目研究的自吸收背景校正的核心技术，具有完全自主的知识产权。所研制的仪器在国内处于领先，并达到国际先进水平，因此建议尽快推广使用，并列入国家自主创新产品。